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涂层测厚仪系统校准方法

发布时间:2016-11-17 阅读:0次

    在涂层测厚仪关机状态下同时按住"ON/OFF"键和"MENU"键,先放开"ON/OFF"键然后放开"MENU"键即可进入系统校准模式。

    MC-2000涂层测厚仪系统校准共需要五个标准样片,进入系统后首先显示"铁基"界面,此时要把探头放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作,伴随着两声蜂鸣便进入第一个样片的测量。屏幕显示出厂时提供的第一个样片值。如果显示的样片值和真实值不符,可以通过"▲▼"键来进行加1或减1操作。按住"▲″或"▼"键不动可以连续加或减,直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对第一个样片进行测量,测量两次无误后,伴随着两声蜂鸣,仪器进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣,说明操作有误,重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。

     当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000’’,进入开机界面如图A,仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。 

     注意事项:样片校准时要按照由小到大的顺序进行。

     测厚仪,超声波测厚仪,涂层测厚仪,漆膜测厚仪,电火花检漏仪,红外线测温仪,硬度计 


通讯员:羽轩转载

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